IoT時代における欠陥検査と計測

アプライド マテリアルズは、シャングリ・ラ ホテル東京において欠陥検査・計測シンポジウムとポスターセッションを開催いたします。

本シンポジウムでは、東芝メモリ株式会社様と富士フイルム株式会社様よりゲストスピーカーをお招きしご講演いただきます。またそれに先立ち、アプライド マテリアルズのテクノロジストよりIoT時代における最新の欠陥検査 ・計測技術についてご説明申し上げます。

詳細のアジェンダは、右の"Agenda"のアイコンよりご覧ください。

事前登録は、恐れ入りますが 右の”New Registration”よりお願いいたします。

何卒ご来臨賜りますようご案内申し上げます。

プログラム概要

東京都千代田区丸の内1-8-3
丸の内トラストタワー本館
シャングリ・ラ ホテル東京
27階 シャングリ・ラボールルーム

2018年12月13日