プロセス制御に向けた最新検査・計測技術の探究

アプライド マテリアルズは、シャングリ・ラ ホテル東京において「Applied Materials 検査・計測Technical Symposium」を開催いたします。

本シンポジウムでは、日本の半導体業界に向けた検査・計測ソリューションの戦略と概要をご説明いたします。それに引き続き、アプライド マテリアルズの各製品テクノロジストより3DおよびHARアプリケーション向け計測技術の進歩、最新光学欠陥検査、自動欠陥分類解析による欠陥レビュー技術の講演を行います。さらに、株式会社東芝より赤堀 浩史様を特別ゲストにお招きしてメモリーの製造革新におけるビッグデータ活用についてご講演いただきます。

詳細のアジェンダは、右の"Agenda"のアイコンよりご覧ください。

事前登録は、恐れ入りますが 右の”New Registration”よりお願いいたします。

何卒ご来臨賜りますよう、ご案内申し上げます。

プログラム概要

東京都千代田区丸の内1-8-3
丸の内トラストタワー本館
シャングリ・ラ ホテル東京
27階 シャングリ・ラボールルーム

2016年12月15日